• Chimie - Matériaux
  • Ingénierie des systèmes complexes et logiciels

Diffraction des Rayons X en incidence rasante / sur couches minces

Plateforme technologique

Description

La diffractométrie de rayons X est une technique d'analyse basée sur la diffraction des rayons X par la matière. La méthode générale consiste à bombarder l'échantillon avec des rayons X, et à analyser l'intensité des rayons X qui est diffusée selon l'orientation dans l'espace. Les rayons X diffusés interfèrent entre eux, l'intensité présente donc des maxima dans certaines directions, on parle de phénomène de « diffraction ». On enregistre alors l'intensité détectée en fonction de l'angle de déviation 2? du faisceau.

Contacts

  • M. Jérémy FORTÉ

Thématiques d'innovation

Laboratoire de rattachement

Plan et accès

Rue du doyen Georges Poitou
ICMMO, campus universitaire d'Orsay (Bât 410)
91400 ORSAY

Equipements et technologies

Spécificités

Identification de phases, texture, contraintes résiduelles, reflectométrie sur films

Technologies utilisées

Caractérisation par diffraction X d'échantillons cristallisés massifs ou de couches minces à température ambiante ou à haute à température en incidence rasante ou non

Mots clés

Equipements spécifiques

Nom Modèle Marque
Berceau d'Euler goniomètre à 4 cercles/
Détecteur à pixels hydrides X'celerator/
Détecteur proportionnel à gaz (Xenon)/
Diffractomètre X'Pert PRO MRD X'Pert PRO MRD/ PANalytical (Phillips)
Monochromateur arrière
Tube émetteur de Rayons X anticathode de Cuivre ou de Chrome/

Écosystème

Département(s) de recherche

  • PHOM (Physique des ondes et de la matière)

Écoles doctorales

Physique