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Chimie - Matériaux
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Ingénierie des systèmes complexes et logiciels
Diffraction des Rayons X en incidence rasante / sur couches minces
Plateforme technologique
La diffractométrie de rayons X est une technique d'analyse basée sur la diffraction des rayons X par la matière. La méthode générale consiste à bombarder l'échantillon avec des rayons X, et à analyser l'intensité des rayons X qui est diffusée selon l'orientation dans l'espace. Les rayons X diffusés interfèrent entre eux, l'intensité présente donc des maxima dans certaines directions, on parle de phénomène de « diffraction ». On enregistre alors l'intensité détectée en fonction de l'angle de déviation 2? du faisceau.
Thématiques d'innovation
Laboratoire de rattachement
Rue du doyen Georges Poitou
ICMMO, campus universitaire d'Orsay (Bât 410)
91400 ORSAY
Spécificités
Identification de phases, texture, contraintes résiduelles, reflectométrie sur filmsTechnologies utilisées
Caractérisation par diffraction X d'échantillons cristallisés massifs ou de couches minces à température ambiante ou à haute à température en incidence rasante ou nonMots clés
Equipements spécifiques
| Nom | Modèle | Marque |
|---|---|---|
| Berceau d'Euler | goniomètre à 4 cercles/ | |
| Détecteur à pixels hydrides | X'celerator/ | |
| Détecteur proportionnel | à gaz (Xenon)/ | |
| Diffractomètre X'Pert PRO MRD | X'Pert PRO MRD/ | PANalytical (Phillips) |
| Monochromateur arrière | ||
| Tube émetteur de Rayons X | anticathode de Cuivre ou de Chrome/ |
Département(s) de recherche
- PHOM (Physique des ondes et de la matière)