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Chimie - Matériaux
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Ingénierie des systèmes complexes et logiciels
XPD - X-ray Photoelectron Diffraction
Plateforme technologique
La diffraction des photoélectrons par rayons X est une technique de surface utilisée pour étudier la structure de surface de l'échantillon. L'intensité du photoélectron excité en fonction de l'angle azimutal ou polaire de l'échantillon est enregistrée en changeant la position de l'échantillon. XPD fournit des informations sur la relaxation de surface et aussi la structure atomique locale jusqu'à la monocouche. L'information quantitative est donnée combinée avec la simulation de diffusion d'électrons. Par ailleurs, XPD est également à la base de l'holographie photoélectronique.
Thématiques d'innovation
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) D36
91400 SACLAY
Spécificités
Par une rotation de l'échantillon, l'intensité des photoélectrons émis est enregistrée en fonction de l'angle azimutal ou polaire par rapport à la normale de l'échantillon. L'XPD fournit ainsi des informations fines sur les relaxations de surface ou encore la structure atomique locale de surface, ou des dépôts en couche mince jusqu'à l'épaisseur ultime de la monocouche. Une information quantitative peut être obtenue par simulation de la diffusion (multiple) des électrons.Technologies utilisées
Un bon moyen pour étudier la structure de la surface d'un échantillon, est d'analyser la diffraction de photoélectrons induits par des rayons X (X-ray Photoelectron Diffraction : XPD). L'XPD est aussi la technique de base pour les techniques d'holographie de photoélectronsMots clés
Offres de formations
Département(s) de recherche
- PHOM (Physique des ondes et de la matière)