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Aéronautique - Aérospatial - Défense
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Chimie - Matériaux
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Energie, Ecologie, Environnement
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Ingénierie des systèmes complexes et logiciels
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Innovation Sociale - Sociétale - Solidaire
Plateforme de microscopie à force atomique multifonctionnelle et interdisciplinaire (IMFAFM)
Plateforme technologique
D'innombrables technologies présentes et futures sont basées sur des matériaux, structures et dispositifs de taille nanométrique. Ces applications couvrent toute la gamme des activités scientifiques, telles que les cellules solaires photovoltaïques, les dispositifs spintroniques, les implants biomédicaux, les transistors à l'échelle nanométrique, jusqu'à la conception de nouvelles microstructures et de matériaux pouvant être traités « atome par atome ».
Si la conception et la fabrication de tels systèmes constituent un exploit en soi, la plateforme de microscopie à force atomique multifonctionnelle et interdisciplinaire (IMFAFM) relève le défi supplémentaire de cartographier de manière simultanée les propriétés topographiques, mécaniques, chimiques et électriques à l'échelle nanométrique.
- Mme Cindy ROUNTREE
- Mme Dana STANESCU
Thématiques d'innovation
- Energie, Ecologie, Environnement
- Ingénierie des systèmes complexes et logiciels
- Modélisation et simulation
- Chimie - Matériaux
- Aéronautique - Aérospatial - Défense
- Innovation Sociale - Sociétale - Solidaire
- Minérale (matériaux, nanomatériaux)
- Nouvelles sources d'énergie et système de production
- Matériaux et procédés
- Sciences, techniques et savoirs
Laboratoire de rattachement
SPEC, CEA Saclay
91190 GIF-SUR-YVETTE
Spécificités
Cartographies simultanées et corrélées de la topographie de surface et des propriétés mécaniques, chimiques et électriques des matériaux à l'échelle nanométrique.Technologies utilisées
Microscopie en champ proche à force atomique, électrostatique et magnétiqueMots clés
Equipements spécifiques
| Nom | Modèle | Marque |
|---|---|---|
| AFM : Microscope à Force Atomique | Fast-Scan Head, Icon Head, NanoScope V/ | Bruker |
| C-AFM : microscope du courant électrique | Fast-Scan Head, Icon Head, NanoScope V/ | Bruker |
| K-PFM : Microscope du potentiel de surface | Fast-Scan Head, Icon Head, NanoScope V/ | Bruker |
| PCR en temps réel | Fast-Scan Head, Icon Head, NanoScope V/ | Bruker |
| PFM : Microscope à force piezo-électrique | Fast-Scan Head, Icon Head, NanoScope V/ | Bruker |
Lien vers les équipements
Offres de prestations
Département(s) de recherche
- EOE (Ingénierie Electrique, Optique et Electronique)
- PHOM (Physique des ondes et de la matière)
Liens PIA
- LabEx LASIPS
Réseaux
- DIM SIRTEQ
- DIM MAP