• Chimie - Matériaux
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LEEM-PEEM Microscope à électrons lents - Microscope Electronique à Photo-Emission

Plateforme technologique

Description

Plusieurs types de microscopies électroniques sont disponibles à l'IRAMIS : Dans La microscopie LEEM, les électrons lents (énergie des électrons de quelques électron-volts, lors de l'interaction) sont rétrodiffusés à la surface d'un échantillon, que l'on peut ainsi visualiser avec une une très haute résolution.
Ce microscope permet aussi l'image de la surface à partir des électrons photoémis suite à un éclairement laser ou rayonnement synchrotron (PEEM : Photo-Emission Electron Microscopy).

Contacts

http://iramis.cea.fr/Phocea/Vie_des_labos/Ast/ast_technique.php?id_ast=122

Thématiques d'innovation

Plan et accès

P.020 Bât.462 Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) D36
91400 SACLAY

Equipements et technologies

Spécificités

Ensemble microscope LEEM / PEEM filtré en énergie + Sources optiques impulsionnelles [520 nm - 1080 nm]

Technologies utilisées

Microscopies électroniques : LEEM (Low Energy Electron Microscopy / PEEM (PhotoEmission Electron Microscopy)

Mots clés

Prestations & formations

Offres de formations

Support technique disponible

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    • Photonique - matériaux optique, nanotechnologie applicative
Titre

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LEEM-PEEM Microscope à électrons lents - Microscope Electronique à Photo-Emission
Typologie

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Microscopie
Type

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Plateforme technologique
Description

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Plusieurs types de microscopies électroniques sont disponibles à l'IRAMIS : Dans La microscopie LEEM, les électrons lents (énergie des électrons de quelques électron-volts, lors de l'interaction) sont rétrodiffusés à la surface d'un échantillon, que l'on peut ainsi visualiser avec une une très haute résolution. Ce microscope permet aussi l'image de la surface à partir des électrons photoémis suite à un éclairement laser ou rayonnement synchrotron (PEEM : Photo-Emission Electron Microscopy).
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P.020 Bât.462 Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) D36
91400 SACLAY
Mots clés

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Nanophotonique, Microscopie, Electrons
Equipements et technologies
Spécificités

Contenu actuel

Ensemble microscope LEEM / PEEM filtré en énergie + Sources optiques impulsionnelles [520 nm - 1080 nm]
Technologies utilisées

Contenu actuel

Microscopies électroniques : LEEM (Low Energy Electron Microscopy / PEEM (PhotoEmission Electron Microscopy)
Equipements

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