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JANNuS-SCALP - Synthèse et Caractérisation avec des Accélérateurs d'ions pour la recherche Pluridisciplinaire

Plateforme technologique

Description

La plateforme JANNuS-SCALP d'IJCLab est constituée :
- d'un séparateur électromagnétique d'isotopes (SIDONIE) qui permet de réaliser des dépôts d'isotopes avec une très grande pureté, 
- de l'ensemble JANNuS-Orsay, constitué d'un Tandem/Van de Graaff de 2 MV (ARAMIS), d'un implanteur d'ions de 190 kV (IRMA), chacun pouvant être couplé à un microscope électronique en transmission (MET), permettant de caractériser in situ à l'échelle nanométrique les modifications structurales et chimiques induites dans un matériau par un ou deux faisceaux d'ions simultanés.
Une grande diversité d'ions (nature, énergie) est disponible sur ARAMIS et IRMA pour des implantations et irradiations ioniques. Des techniques d'analyse par faisceaux d'ions, quantitatives et non destructives, sont également disponibles pour caractériser les matériaux (RBS, RBS-C, ERDA, PIXE, PIGE): l'analyse spectroscopique des rayonnements et particules émis lors de la mesure permet d'obtenir diverses informations sur l'échantillon telles que sa composition élémentaire, la détermination des profils de concentration en surface ou en profondeur, ou la détection des éléments légers.

Contacts

  • Mme Aurélie GENTILS
  • M. Cyril BACHELET

Thématiques d'innovation

Laboratoire de rattachement

Plan et accès

IJCLab, Batiment 108, Campus de la vallée d'Orsay
91405 ORSAY

Equipements et technologies

Spécificités

Les travaux qui sont menés sur la plateforme JANNuS-SCALP d'IJCLab concernent principalement l'étude des mécanismes élémentaires qui régissent le comportement des matériaux soumis à des faisceaux d'ions, l'utilisation des modifications structurales et/ou chimiques des matériaux à des fins d'ingénierie de surface, et enfin, la réalisation de couches minces isotopiquement pures.

Technologies utilisées

- irradiation et implantation ionique de matériaux (50 eV-11 MeV, plus de 65 éléments disponibles)
- techniques d'analyse par faisceaux d'ions (RBS, RBS-C, ERDA, PIXE, µPIXE, PIGE)
- Microscopie Electronique en Transmission (MET), in situ avec simple/double faisceau d'ions
- séparateur électromagnétique d'isotopes

Mots clés

Equipements spécifiques

Nom Modèle Marque
ARAMIS, Tandem/Van de Graaff 2MV Home-made
IRMA, Implanteur d'ions 190 kV Home-made
Microscope électronique à balayage Tecnai 200 kV Tecnai G2 F20 Twin/ FEI
Porte-échantillons -170°C à 1000°C/ Home-made
SIDONIE, séparateur électromagnétique 50kV home-made

Prestations & formations

Offres de formations

- possibilités de prestation
- comité d'expérience/de sélection
- des travaux pratiques sont proposés aux étudiants

Écosystème

Département(s) de recherche

  • P2I (Physique des deux infinis)
  • PHOM (Physique des ondes et de la matière)

Labellisations

  • Plateforme IN2P4

Écoles doctorales

Physique