• Chimie - Matériaux
  • Ingénierie des systèmes complexes et logiciels

RX - Diffractomètre

Plateforme technologique

Description

La diffraction des rayons X est un phénomène d'interférence constuctive qui se produit quand un faisceau de rayons X (onde électromagnétique) pénètre dans un cristal (empilement périodique d'atomes).

Il peut donc apparaitre quand on place un monocristal, un polycristal ou une poudre devant une source de rayons X. L'emplacement des faisceaux diffractés nous informe sur la périodicité du (des) cristal, tandis que l'intensité de ces faisceaux nous informe sur la nature et la position des atomes contenus dans le (les) cristal.

Contacts

Thématiques d'innovation

Laboratoire de rattachement

Plan et accès

Route de l'Orme aux Merisiers
P.07 Bât.771, CEA
91190 GIF-SUR-YVETTE

Equipements et technologies

Spécificités

Le groupe GOC de l'IRAMIS/SPEC possède un diffractomètre pour poudres D8 Advance (Bruker-axs) équipé d'une chambre en température MRI, permettant de caractériser les matériaux synthétisés (identification des phases cristallines, évaluation de la cristallinité des échantillons et calcul des paramètres cristallins) et étudier leurs structures de l'ambiante à 1100°C.

Technologies utilisées

Le groupe GOC de l'IRAMIS/SPEC possède un diffractomètre pour poudres D8 Advance (Bruker-axs) équipé d'une chambre en température MRI, permettant de caractériser les matériaux synthétisés (identification des phases cristallines, évaluation de la cristallinité des échantillons et calcul des paramètres cristallins) et étudier leurs structures de l'ambiante à 1100°C.

Mots clés

Prestations & formations

Offres de formations

Support technique disponible

Écosystème

Département(s) de recherche

  • PHOM (Physique des ondes et de la matière)

Écoles doctorales

Physique