• Chimie - Matériaux

ILV / PASTEL / Plateforme Spectrophotométrie

Plateforme technologique

Description

Spectrophotomètre pour la mesure directe de rendements d’émission.

Contacts

  • M. Jérôme MARROT
  • M. David KREHER

https://www.ilv.uvsq.fr/pastel-fluorimetrie

Thématiques d'innovation

Laboratoire de rattachement

Plan et accès

45 avenue des États-Unis
Bâtiment Lavoisier
78000 VERSAILLES

Equipements et technologies

Spécificités

- Sphère d’intégration intégrée, pas besoin de référence pour obtenir le rendement d’émission.
- Appareil compact très simple d’utilisation, également « évolutif » (si achat d’accessoires).
- Mesure précise et rapide, résolution < 2 nm (détecteur multi-canaux).

Type de matériaux/échantillons étudiés : solutions, poudres, films.

Technologies utilisées

Mesures optiques à l’état stationnaire ; sphère intégrante SPECTRARON Hamamatsu de 3,3 inch ; Excitation de 250 (ou 375) à 850 nm, mesures de 200 (ou 350) à 950 (ou 1100) nm.

Mots clés

Equipements spécifiques

Nom Modèle Marque
Spectrophotomètre

Prestations & formations

Offres de prestations

Détermination des rendements d’émission de nouveaux matériaux.

Écosystème

Etablissements de rattachement

Université Versailles Saint-Quentin
Université Paris-Saclay

Département(s) de recherche

  • Chimie

Écoles doctorales

Chimie

Demande de modification

Vous entrez dans le mode de « demande de modification ».
Après avoir envoyé vos modifications, elles seront d’abord validées par l’équipe Plug in labs Université Paris Saclay, avant d’apparaître sur la plateforme.

Thématiques

Thématiques actuelles

  • Chimie - Matériaux
    • Chimie analytique
Titre

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ILV / PASTEL / Plateforme Spectrophotométrie
Typologie

Contenu actuel

Type

Contenu actuel

Plateforme technologique
Description

Contenu actuel

Spectrophotomètre pour la mesure directe de rendements d’émission.
Infos de contact
Contact

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Nom du contact Email Téléphone
Jérôme-MARROT jerome.marrot@uvsq.fr
David-KREHER david.kreher@uvsq.fr
URL

Contenu actuel

https://www.ilv.uvsq.fr/pastel-fluorimetrie

Adresse

Contenu actuel

45 avenue des États-Unis
Bâtiment Lavoisier
78000 VERSAILLES
Mots clés

Contenu actuel

Rendement de fluorescence, spectromètre optique complémentaire d’un spectrofluorimètre.
Equipements et technologies
Spécificités

Contenu actuel

- Sphère d’intégration intégrée, pas besoin de référence pour obtenir le rendement d’émission. - Appareil compact très simple d’utilisation, également « évolutif » (si achat d’accessoires). - Mesure précise et rapide, résolution < 2 nm (détecteur multi-canaux). Type de matériaux/échantillons étudiés : solutions, poudres, films.
Technologies utilisées

Contenu actuel

Mesures optiques à l’état stationnaire ; sphère intégrante SPECTRARON Hamamatsu de 3,3 inch ; Excitation de 250 (ou 375) à 850 nm, mesures de 200 (ou 350) à 950 (ou 1100) nm.
Equipements

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Spectrophotomètre

Lien vers les équipements

Contenu actuel

Prestations et formations
Offre de formation

Contenu actuel

Types de prestations

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Offre de prestations

Contenu actuel

Détermination des rendements d’émission de nouveaux matériaux.
Écosystème
Etablissements de rattachement

Contenu actuel

Université Versailles Saint-Quentin Université Paris-Saclay
Département(s) de recherche

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Chimie
Certifications

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Labellisations

Contenu actuel

Réseaux

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Ecoles doctorales

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Chimie
Infrastructures de rattachement

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