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Chimie - Matériaux
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Ingénierie des systèmes complexes et logiciels
HELIOS
Plateforme technologique
L'Équipement d'Excellence MatMéca (ANR-10-EQPX-37) est une réponse aux problématiques d'élaboration et de caractérisation des matériaux destinés aux secteurs de l'énergie, des transports, de l'espace, des nanotechnologies et des biomatériaux. Au sein du Campus Paris-Saclay l'EquipEx MATMECA s'appuie sur trois plateformes complémentaires et interactives :
« Elaboration par métallurgie des poudres »
« Caractérisation micro-mécanique in-situ »
« Calcul intégré dans un réseau ultrarapide »
Elles constituent un ensemble unique capable d'attirer les meilleurs chercheurs dans le domaine et de constituer un élément important des futures formations dans le domaine de la mécanique et des matériaux.
- M. Paul HAGHI-ASHTIANI
- M. Thomas REISS
- Mme Elsa VENNAT
- Mme Eva HERIPRE
Thématiques d'innovation
Salle M.S16, Laboratoire MSSMat, Bâtiment. Eiffel, CentraleSupélec
91190 GIF-SUR-YVETTE
Spécificités
La colonne électronique (500 V-30 kV) permet, grâce à un monochromateur ainsi qu'une platine de décélération de faisceau, d'atteindre des résolutions sub-nanométriques. Elle est équipée de nombreux détecteurs pouvant éventuellement superposer leurs signaux permettant ainsi de révéler au mieux les plus petits détails de la microstructure. La colonne ionique, avec une résolution de 4 nm, permet un gravage précis de structures complexes à l'échelle nanométrique que ce soit pour la préparation de lames pour la microscopie en transmission ou pour la caractérisation tridimensionnelle.Technologies utilisées
L'HELIOS-660 combine microscopie électronique à balayage (MEB) et usinage ionique de haute précision à l'aide d'un faisceau ionique focalisé (FIB). Il est équipé d'outils d'analyse cristallographique (EBSD) et chimique (EDS) ainsi que de 7 différents détecteurs pour l'imagerie électronique.Mots clés
- microscopie électronique à balayage
- faisceau ionique focalisé
- analyse cristallographique
- imagerie électronique
- caractérisation microstructure 3D
- reconstruction tridimensionnelle
Equipements spécifiques
Nom | Modèle | Marque |
---|---|---|
Microscope à double colonne MEB-FIB | HELIOS Nanolab 660/ | FEI |
Lien vers les équipements
Offres de formations
Etablissements de rattachement
Département(s) de recherche
- MEP (Mécanique, Energétique et procédés)
- PHOM (Physique des ondes et de la matière)
Liens PIA
- EquipEx MATMECA