• Chimie - Matériaux
  • Ingénierie des systèmes complexes et logiciels

HELIOS

Plateforme technologique

Description

L'Équipement d'Excellence MatMéca (ANR-10-EQPX-37) est une réponse aux problématiques d'élaboration et de caractérisation des matériaux destinés aux secteurs de l'énergie, des transports, de l'espace, des nanotechnologies et des biomatériaux. Au sein du Campus Paris-Saclay l'EquipEx MATMECA s'appuie sur trois plateformes complémentaires et interactives :

« Elaboration par métallurgie des poudres »
« Caractérisation micro-mécanique in-situ »
« Calcul intégré dans un réseau ultrarapide »

Elles constituent un ensemble unique capable d'attirer les meilleurs chercheurs dans le domaine et de constituer un élément important des futures formations dans le domaine de la mécanique et des matériaux.

Contacts

  • M. Paul HAGHI-ASHTIANI
  • M. Thomas REISS
  • Mme Elsa VENNAT
  • Mme Eva HERIPRE

Thématiques d'innovation

Plan et accès

Salle M.S16, Laboratoire MSSMat, Bâtiment. Eiffel, CentraleSupélec
91190 GIF-SUR-YVETTE

Equipements et technologies

Spécificités

La colonne électronique (500 V-30 kV) permet, grâce à un monochromateur ainsi qu'une platine de décélération de faisceau, d'atteindre des résolutions sub-nanométriques. Elle est équipée de nombreux détecteurs pouvant éventuellement superposer leurs signaux permettant ainsi de révéler au mieux les plus petits détails de la microstructure. La colonne ionique, avec une résolution de 4 nm, permet un gravage précis de structures complexes à l'échelle nanométrique que ce soit pour la préparation de lames pour la microscopie en transmission ou pour la caractérisation tridimensionnelle.

Technologies utilisées

L'HELIOS-660 combine microscopie électronique à balayage (MEB) et usinage ionique de haute précision à l'aide d'un faisceau ionique focalisé (FIB). Il est équipé d'outils d'analyse cristallographique (EBSD) et chimique (EDS) ainsi que de 7 différents détecteurs pour l'imagerie électronique.

Mots clés

Equipements spécifiques

Nom Modèle Marque
Microscope à double colonne MEB-FIB HELIOS Nanolab 660/ FEI

Lien vers les équipements

Prestations & formations

Offres de formations

http://matmeca.cnrs.fr/plateforme-caracterisation-micro-mecanique-in-situ/le-met-et-le-meb-fib-du-mssmat/charte-dutilisation/

Écosystème

Etablissements de rattachement

CNRS
CentraleSupelec
ENS Paris-Saclay
Ecole Polytechnique

Département(s) de recherche

  • MEP (Mécanique, Energétique et procédés)
  • PHOM (Physique des ondes et de la matière)

Liens PIA

  • EquipEx MATMECA

Écoles doctorales

Physique