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Chimie - Matériaux
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Ingénierie des systèmes complexes et logiciels
Diffraction RX sur poudre
Plateforme technologique
La diffractométrie de rayons X (sur poudre) est une méthode d'analyse physico-chimique qualitative et quantitative. Cette technique permet de déterminer la nature de chaque phase cristalline au sein d'un échantillon mais aussi de remonter à la structure du système analysé (paramètres de maille, positions atomique, ?)
Thématiques d'innovation
Laboratoire de rattachement
Rue du doyen Georges Poitou
ICMMO, campus universitaire d'Orsay (Bât 410)
91400 ORSAY
Spécificités
La méthode générale consiste à bombarder l'échantillon avec des rayons X, et à analyser l'intensité des rayons X qui est diffusée selon l'orientation dans l'espace. Les rayons X diffusés interfèrent entre eux, l'intensité présente donc des maxima dans certaines directions, on parle de phénomène de «diffraction». On enregistre l'intensité détectée en fonction de l'angle de déviation 2? du faisceau.L'appareil est doté d'un four permettant l'analyse de la température ambiante jusqu'à 1370K et d'un système Phenix permettant de descendre jusqu'à 12K.
Technologies utilisées
La diffractométrie de rayons X est une technique d'analyse basée sur la diffraction des rayons X par la matière.Appareil : PANalytical X'Pert PRO MPD, tube Cu K alpha 1
Mots clés
Equipements spécifiques
| Nom | Modèle | Marque |
|---|---|---|
| Diffractomètre MPD PRO | MPD PRO/ | Panalytical |
| Monochromateur avant | Four (300K - 1375K). Basse température (10K - 300K)/ |
Lien vers les équipements
Offres de formations
Les appareils de diffraction sont en libre-service sous conditions d'accord (formation requise). Support technique disponible.
Département(s) de recherche
- PHOM (Physique des ondes et de la matière)